본 발명은 암 세포의 방사선 저항성 수준을 나타낼 수 있는 유전자 패널의 발현 수준 측정을 통해 암의 방사선 치료 예후를 예측하기 위한 정보제공방법, 진단용 조성물, 진단용 키트, 및 암의 방사선 치료 예후를 예측하기 위한 정보제공방법에 따른 예후 예측 정보를 기초로 하는 방사선 치료 병용 암 치료 방법에 관한 것이다.