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비전 시스템으로 이미지에서 라인을 찾기 위한 시스템 및 방법

페이지 정보

작성자 관리자 작성일 조회351회

본문



특허 출원일자 : 2019.04.29

특허 등록일자 : 2022.05.24

특허 등록번호 : 10-2402906-0000



본 발명은 이미지 내에서 다중선 특징을 찾아내기 위한 방법 및 시스템에 관한 것이다. 두 개의 관련된 스텝이 라인 특징을 식별하기 위해 이용된다. 첫번째 프로세스는 각 이미지 위치에서 기울기장(the gradient field)의 x와 y 컴포넌트를 계산하고, 다수의 서브영역을 넘어 기울기장을 프로젝트하고, 위치와 경사를 갖는 다수의 에지포인트를 산출하는 다수의 경사도 극값(a plurality of gradient extrema)을 검출한다. 두 번째 프로세스는 두 개의 에지 포인트를 선택하고, 그것들에 모델라인을 맞추고(fits), 에지포인트 기울기가 모델과 동일하면(consistent), 위치와 기울기가 그 모델과 일치하는 내좌층 포인트의 전체 세트(full set of inlier points)를 연산한다. 최대 내좌층 카운트를 갖는 후보 라인이 유지되고 외좌층 포인트(outlier points)를 남기는 세트가 도출된다. 상기 프로세스는 라인 맞춤 동작(the line fitting operation)과 다수의 라인결과를 찾기 위한 이후의 외좌층 세트를 반복적으로 적용한다. 이러한 프로세스는 철저한 RANSAC 기반에서 이루어질 수 있다.

대표변리사

김순웅

정진국제특허법률사무소 상담문의 02-6677-7612