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성공사례-특허사례

반도체 X-선 검출기

페이지 정보

작성자 관리자 작성일 조회674회

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특허 출원일자 : 2015.04.07

특허 등록일자 : 2019.01.18

특허 등록번호 : 10-1941899-0000



X-선을 검출하기 위한 장치(100)가 개시되며, 이러한 장치는, 전극을 포함하는 X-선 흡수 층(110); 전극의 전압을 제 1 임계치(V1)와 비교하도록 구성된 제 1 전압 비교기(301); 전압을 제 2 임계치(V2)와 비교하도록 구성된 제 2 전압 비교기(302); X-선 흡수 층(110)에 의해 흡수된 X-선 광자들의 수를 기록하도록 구성된 계수기(320); 그리고 제어기(310)를 포함한다. 제어기(310)는, 전압의 절대값이 제 1 임계치(V1)의 절대값과 동일하거나 혹은 제 1 임계치(V1)의 절대값을 초과한다고 제 1 전압 비교기(301)가 결정한 시간으로부터 시간 지연(TD1, TD2)을 시작하는 것; 시간 지연(TD1, TD2) 동안 제 2 전압 비교기(302)를 활성화시키는 것; 그리고 만약 시간 지연(TD1, TD2) 동안 전압의 절대값이 제 2 임계치(V2)의 절대값과 동일하거나 혹은 제 2 임계치(V2)의 절대값을 초과한다고 제 2 전압 비교기(302)가 결정한다면, 계수기(320)에 의해 기록된 수가 1만큼 증가하게 하는 것을 수행하도록 구성된다.

정진국제특허법률사무소 상담문의 02-6677-7612